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一、江蘇高低溫沖擊試驗(yàn)箱簡(jiǎn)介：
冷熱沖擊試驗(yàn)箱根據(jù)待測(cè)試樣品的特殊性，分為兩箱式動(dòng)態(tài)沖擊和三箱式靜態(tài)沖擊，本產(chǎn)品可做冷熱沖擊，也可以做單獨(dú)高溫或低溫使用。廣泛應(yīng)用于航空航天、電子電工、儀器儀表、汽車(chē)、通訊、集成電路、半導(dǎo)體等領(lǐng)域，可發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品潛在缺陷，做應(yīng)力篩選試驗(yàn)，提高產(chǎn)品的可靠性和進(jìn)行產(chǎn)品質(zhì)量控制。
二、江蘇高低溫沖擊試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)
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三、高低溫沖擊試驗(yàn)箱滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)：
1.GJB150.5A-2009溫度沖擊試驗(yàn)
2.GB/2423.22-2012/IEC60068-2-14:2009溫度沖擊試驗(yàn)
3.GB/T2424.13-2002/IEC60068-2-33:1971電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)
第2部分:試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則
4.GJB360B-2009溫度沖擊試驗(yàn)
5.GB/T2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫
6.GB/T2423.2-2008/IEC60068-2-2：2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫
7.GB/T10589-2008低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
8.GB/T11158-2008高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
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